Comet Yxlon GmbH

• Série : Série FF
• Industrie : Automobile, électronique, aérospatiale, science et recherche, semi-conducteurs, fabrication additionnelle
• Taille des défauts : <1µm, <50µm, <1mm, >1mm
• Taille des pièces : petite taille, taille moyenne
• Mode de fonctionnement : 3D, 2D/3D, métrologie

• Analyse précise des matériaux en laboratoire
• visibilité des détails en 2D jusqu'à 150 nm avec un tube de transmission de 190 kV
• Manipulation précise et stabilité de la température grâce à la base en granit
• Interface graphique intuitive Geminy avec écrans tactiles
• Version métrologique optionnelle avec un MPESD = 3,9 µm + L/75 [L en mm]
• Essais non destructifs à haute énergie

Plus les composants sont petits, plus il est important d'obtenir des scanners à rayons X et des tomographies fiables et de haute précision pour l'assurance qualité, le contrôle des processus et les inspections de petites séries. Les systèmes haute résolution extrêmement compacts Comet Yxlon FF20 CT et FF20 CT Metrology sont spécialement conçus pour l'inspection de pièces très fines et de structures internes. Avec une énergie relativement élevée de 190 kV, même les pièces denses peuvent être analysées dans les moindres détails.

• Composants électroniques, y compris SMD
• Boîtiers de semi-conducteurs
• Éléments de batterie
• Plastiques moulés par injection
• Produits impliquant de nouveaux matériaux ou de nouvelles méthodes de fabrication, par exemple composants fabriqués de manière additive, plastiques renforcés par des fibres
• Microsystèmes (MEMS, MOEMS)
• Objets médicaux, par exemple canules
• Échantillons géologiques, paléontologiques et biologiques

• Assurance qualité, analyse des matériaux, recherche sur les matériaux
• Analyse des défaillances et des structures
• Vérification de l'assemblage
• Inspection de petites productions en série
• Contrôle de processus
• Numérisation
• Segmentation