Dirk Steiner, directeur du développement commercial chez Yxlon, s'occupe intensivement de la tomographie assistée par ordinateur industrielle depuis 2004 et a numérisé et analysé plus de 1 000 ensembles de données. Vous avez ici l'occasion de regarder l'enregistrement du webinaire Today's Metrology Live de GIE Media et d'entendre comment des tâches de métrologie exigeantes sont résolues de manière fiable avec la tomographie par ordinateur. Yxlon était présent aux côtés de fabricants d'autres technologies liées à la métrologie pour fournir un aperçu complet des solutions.

Dirk a parlé des dernières tendances en matière de métrologie utilisant la tomographie assistée par ordinateur (TAO) industrielle et de la façon dont les données sont la clé pour obtenir les informations dont les fabricants ont besoin pour augmenter leur efficacité et réduire les coûts. Le plus important pour les fabricants est la qualité élevée de leurs produits. Lors de la "table ronde", cinq participants ont discuté de la manière dont leurs solutions peuvent aider les producteurs à atteindre cet objectif. Cependant, la mesure et l'analyse des structures internes ne sont possibles qu'avec le CT.

En réponse à l'une des questions posées, Dirk a déclaré : "Le CT est une méthode non tactile, nous ne modifions donc pas la géométrie au cours du processus. Nous pouvons voir les structures internes, et avec la grande tendance actuelle à la fabrication additive, il n'y a pas de limites à ce que vous pouvez concevoir et imprimer. Avec le scanner, nous pouvons regarder à l'intérieur et mesurer des éléments qui sont soit en contre-dépouille, soit cachés dans la pièce. En outre, nous obtenons également des données sur les défauts, les défauts internes, qui n'ont en soi rien à voir avec la métrologie. Nous faisons donc d'une pierre deux coups."