Le nouveau micromètre à LED haute performance optoCONTROL 2700 permet une précision inégalée pour les tâches de mesure exigeantes. L'épaisseur, la fente, les arêtes et les segments peuvent ainsi être mesurés avec une grande précision. Il est ainsi possible de réaliser des mesures précises de petits objets à partir de 0,3 mm. Le micromètre de précision à LED offre une linéarité de 1 µm et une résolution numérique de 10 nm. Il est utilisé par exemple dans la fabrication de semi-conducteurs, l'industrie automobile, l'aérospatiale et la technique médicale.

L'avantage décisif est l'optique télécentrique qui optimise nettement la précision de mesure. L'objet à mesurer est éclairé de manière uniforme et la correction de l'inclinaison en temps réel garantit des résultats de mesure extrêmement précis, même lorsque les objets à mesurer sont placés de biais ou inclinés. Un alignement orthogonal de l'objet à mesurer n'est donc pas nécessaire.

Qu'il s'agisse d'objets hautement réfléchissants comme des rouleaux ou d'objets transparents comme des tranches de verre, ces micromètres innovants offrent une solution optimale partout où une précision et une fiabilité maximales sont requises.

En plus d'une mesure précise, la détection intégrée de l'encrassement offre une solution proactive pour la détection d'impuretés ou de corps étrangers sur la surface de mesure. Cette fonction contribue à éviter les erreurs de mesure et à élever la qualité des résultats au plus haut niveau.

Grâce au contrôleur intégré, aucun appareil de commande externe n'est nécessaire et le temps de câblage et de montage est réduit au minimum.

Toute la configuration du micromètre à LED s'effectue via l'interface web intégrée. L'interface web est appelée via l'interface Ethernet et permet de régler rapidement et facilement, par exemple, la moyenne ou la fréquence de mesure et offre de nombreuses possibilités de paramétrage pour chaque tâche de mesure.

Six préréglages permettent un paramétrage rapide et simple en fonction de la tâche de mesure. L'interface web propose en outre une image en noir et blanc évolutive pour un alignement simple. Il est ainsi désormais possible de positionner graphiquement le micromètre ou l'objet à mesurer de manière optimale.